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域控制器芯片作為域控制器的核心部件，其性能直接影響整個系統(tǒng)的運行，域控制器芯片測試設備則為芯片性能提供可靠保障。設備采用高精度的探針臺實現與芯片引腳的精準連接，能夠對芯片的電氣參數進行精確測量，如輸入輸出電壓、電流、電阻等，檢測芯片是否符合設計規(guī)格。在功能測試方面，設備加載各種測試向量，模擬芯片在實際工作中的數據處理和邏輯運算場景，驗證芯片功能的正確性和完整性。

該設備還具備失效分析功能，當芯片出現故障時，通過顯微成像、電子探針等技術對芯片內部結構進行分析，定位故障點，幫助工程師找出問題根源，優(yōu)化芯片設計。此外，設備支持高溫、低溫、高壓等極端環(huán)境測試，評估芯片在不同條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。通過域控制器芯片測試設備的嚴格檢測，確保每一顆芯片都具備良好的性能和質量，為域控制器的穩(wěn)定運行和高性能表現奠定堅實基礎。

金凱博域控制器EOL測試設備涵蓋多項功能驗證，確保產品性能達標。測試包括喚醒與啟動時間校驗，通過上位機供電及CAN信號喚醒產品，讀取啟動時間，驗證硬件快速啟動及ETH/AVM功能。軟件版本讀取在喚醒后8秒進行，通過TCP指令確認數據準確性。電源電壓測量檢查各電源域電壓是否正常。CAN功能測試通過上位機發(fā)送報文，驗證CAN通道通信。IIC、GPIO、ADC等功能測試通過特定命令啟動并確認結果。Nor Flash、LPDDR5、UFS存儲測試驗證讀寫能力。ETH功能通過ICMP指令檢測握手反饋。